ASTM E1438-11(2019) PDF
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Название (английский):
ASTM E1438-11(2019)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 15 ноября 2019 г.
- SKU:
- ASTM E1438-11(2019)
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:15 €
Abstract
Significance and Use 5.1 Although it would be desirable to measure the extent of profile distortion in any unknown sample by using a standard sample and this guide, measurements of interface width (profile distortion) can be unique to ever...
Похожие стандарты
Другие стандарты ASTM