ASTM E684-04 PDF
Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces (Withdrawn 2012)
Название (английский):
ASTM E684-04
Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces (Withdrawn 2012)
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 16 января 2013 г.
- SKU:
- ASTM E684-04
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:15 €
Abstract
Significance and UseSputter depth profiling is used in conjunction with Auger electron spectroscopy, x-ray photoelectron spectroscopy, ion scattering spectroscopy, and secondary ion mass spectrometry to determine the chemical composition an...
Похожие стандарты
Другие стандарты ASTM