ASTM F1262M-14 PDF
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
Название (английский):
ASTM F1262M-14
Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 11 января 2023 г.
- SKU:
- ASTM F1262M-14
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:15 €
Abstract
Significance and Use 5.1 Digital logic circuits are used in system applications where they are exposed to pulses of radiation. It is important to know the minimum radiation level at which transient failures can be induced, since this affec...
Похожие стандарты
Другие стандарты ASTM