BS CECC 00013:1985 PDF
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
Название (английский):
BS CECC 00013:1985
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 августа 1985 г.
- ICS:
- 31.080.01
- SKU:
- BS CECC 00013:1985