BS EN 60747-5-3:2001 PDF
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices - Measuring methods
Название (английский):
BS EN 60747-5-3:2001
Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices - Measuring methods
- Статус документа:
- D
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 15 января 1998 г.
- ICS:
- 25.040.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60747-5-3:2001
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:358 €
Abstract
1 Scope This part of IEC 60747 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты BS
BS IEC 60747-12-3:1998
ОтменёнDiscrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices. Blank detail specification f…
PDF
50 €
BS EN 3841-307:2004
ДействующийAerospace series. Circuit breakers. Test methods. Performance with a locked tripping system.
10 · PDF
50 €
BS ISO/IEC 27050-4:2021
ДействующийInformation technology. Electronic discovery. Technical readiness.
38 · PDF
50 €
BS ISO 10791-4:1998
ДействующийTest conditions for machining centres. Accuracy and repeatability of positioning of linear and rotary axes.
14 · PDF
50 €
BS EN 3697:2013
ДействующийAerospace series. Acrylonitrile-butadiene rubber (NBR). Low temperature resistant. Hardness 60 IRHD.
10 · PDF
50 €
BS EN 12276:2013
ДействующийMountaineering equipment. Frictional anchors. Safety requirements and test methods.
20 · PDF
50 €
BS EN 14822-2:2005
ДействующийHealth Informatics. General purpose information components. Non-clinical.
202 · PDF
50 €
BS EN 14626:2024
ДействующийAmbient air. Standard method for the measurement of the concentration of carbon monoxide by non-dispersive in…
108 · PDF
50 €