BS EN 60749-29:2011 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Latch-up test
Название (английский):
BS EN 60749-29:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Latch-up test
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 августа 2011 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 60749-29:2011