BS EN 62415:2010 PDF
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
Название (английский):
BS EN 62415:2010
Semiconductor devices. Constant current electromigration test
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 июля 2010 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62415:2010
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:50 €
Abstract
What is BS EN 62415 - Semiconductor constant current electromigration test about?
BS EN 62415 is an international standard used for semiconductor devices. It describes a method for conventional constant-current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
What is BS EN 62415 - Semiconductor constant current electromigration test for?
BS EN 62415 on s emiconductor devices is useful for:
Manufacturers of semiconductor devices
Похожие стандарты
Другие стандарты BS