BS EN 62416:2010 PDF
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
Название (английский):
BS EN 62416:2010
Semiconductor devices. Hot carrier test on MOS transistors
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 июля 2010 г.
- ICS:
- 31.080.30
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62416:2010
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:50 €
Abstract
What is BS EN 62416 - Hot carrier test on MOS transistors about?
BS EN 62416 is an international standard used for semiconductor devices. BS EN 62416 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
Who is BS EN 62416 -
Похожие стандарты
Другие стандарты BS