BS EN IEC 60749-41:2020 PDF
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Название (английский):
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 сентября 2020 г.
- ICS:
- 31.080.01
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN IEC 60749-41:2020
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:50 €
Abstract
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты BS
IEC 60749-2:2002/COR1:2003
ДействующийCorrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
10 · PDF
35 €
BS EN 3841-307:2004
ДействующийAerospace series. Circuit breakers. Test methods. Performance with a locked tripping system.
10 · PDF
50 €
BS ISO/IEC 27050-4:2021
ДействующийInformation technology. Electronic discovery. Technical readiness.
38 · PDF
50 €
BS ISO 10791-4:1998
ДействующийTest conditions for machining centres. Accuracy and repeatability of positioning of linear and rotary axes.
14 · PDF
50 €
BS EN 3697:2013
ДействующийAerospace series. Acrylonitrile-butadiene rubber (NBR). Low temperature resistant. Hardness 60 IRHD.
10 · PDF
50 €
BS EN 12276:2013
ДействующийMountaineering equipment. Frictional anchors. Safety requirements and test methods.
20 · PDF
50 €
BS EN 14822-2:2005
ДействующийHealth Informatics. General purpose information components. Non-clinical.
202 · PDF
50 €
BS EN 14626:2024
ДействующийAmbient air. Standard method for the measurement of the concentration of carbon monoxide by non-dispersive in…
108 · PDF
50 €