BS IEC 62047-43:2024 PDF
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
Название (английский):
BS IEC 62047-43:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 марта 2024 г.
- ICS:
- 31.080.99
- SKU:
- BS IEC 62047-43:2024