BS IEC 62373-1:2020 PDF
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET
Название (английский):
BS IEC 62373-1:2020
Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Fast BTI test for MOSFET
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 марта 2023 г.
- ICS:
- 31.080.30
- SKU:
- BS IEC 62373-1:2020
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:50 €
Abstract
1 Scope
This part of IEC 62373 provides the measurement procedure for a fast BTI (bias temperature instability) test of silicon based metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs). This document also defines the terms pertaining to the conventional BTI test method.
Похожие стандарты
Другие стандарты BS