BS IEC 63229:2021 PDF
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
Название (английский):
BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 августа 2023 г.
- ICS:
- 31.080
- SKU:
- BS IEC 63229:2021
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:50 €
Похожие стандарты
Другие стандарты BS
BS EN 3841-307:2004
ДействующийAerospace series. Circuit breakers. Test methods. Performance with a locked tripping system.
10 · PDF
50 €
BS ISO/IEC 27050-4:2021
ДействующийInformation technology. Electronic discovery. Technical readiness.
38 · PDF
50 €
BS ISO 10791-4:1998
ДействующийTest conditions for machining centres. Accuracy and repeatability of positioning of linear and rotary axes.
14 · PDF
50 €
BS EN 3697:2013
ДействующийAerospace series. Acrylonitrile-butadiene rubber (NBR). Low temperature resistant. Hardness 60 IRHD.
10 · PDF
50 €
BS EN 12276:2013
ДействующийMountaineering equipment. Frictional anchors. Safety requirements and test methods.
20 · PDF
50 €
BS EN 14822-2:2005
ДействующийHealth Informatics. General purpose information components. Non-clinical.
202 · PDF
50 €
BS EN 14626:2024
ДействующийAmbient air. Standard method for the measurement of the concentration of carbon monoxide by non-dispersive in…
108 · PDF
50 €
BS ISO/IEC 19678:2015
ДействующийInformation Technology. BIOS Protection Guidelines.
26 · PDF
50 €