ASTM F1389-00
Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)
Standard Test Methods for Photoluminescence Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 16 августа 2017 г.
- SKU:
- ASTM F1389-00
Цена по запросу
Свяжитесь с нами для уточнения стоимости.
Abstract
ScopeThis standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 20031.1 These test methods cover the simultaneous determination of electrically active boron, phosphorus, arsenic, and aluminum content in low-dislocation mono-crystalline silico...
Похожие стандарты
Другие стандарты ASTM