BS EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Salt atmosphere
Название (английский):
BS EN IEC 60749-13:2018
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Salt atmosphere
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 30 апреля 2018 г.
- ICS:
- 31.080.01
- SKU:
- BS EN IEC 60749-13:2018
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 рабочий день
Цена:50 €
Abstract
What is BS EN IEC 60749-13 – Salt atmosphere test for semiconductor devices about?
BS EN IEC 60749 is an international standard on semiconductor devices.
BS EN IEC 60749-13 is the 13 th part of the series that describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces.
BS EN IEC 60749-13 is only applicable to those dev...
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты BS