BS ISO 20263:2024
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
Название (английский):
BS ISO 20263:2024
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 56
- Дата публикации:
- 19 ноября 2024 г.
- SKU:
- BS ISO 20263:2024
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 рабочий день
Цена:50 €
Похожие стандарты
Другие стандарты BS