BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system - Test method of sound variation detection
Название (английский):
BS EN IEC 63364-1:2022
Semiconductor devices. Semiconductor devices for IoT system - Test method of sound variation detection
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 28 февраля 2023 г.
- ICS:
- 31.080.01
- SKU:
- BS EN IEC 63364-1:2022
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 рабочий день
Цена:6 000 ₽
Похожие стандарты
Другие стандарты BS
BS EN 16261-3:2012
ДействующийPyrotechnic articles. Fireworks, Category 4. Test methods.
30 · PDF
54 000 ₽
BS EN ISO 11957:2009
ДействующийAcoustics. Determination of sound insulation performance of cabins. Laboratory and in situ measurements.
22 · PDF
39 600 ₽
BS EN 3745-303:2007
ДействующийAerospace series. Fibres and cables, optical, aircraft use. Test methods. Bandwidth.
8 · PDF
14 400 ₽
BS EN 16603-10-24:2017
ДействующийSpace engineering. Interface management.
58 · PDF
104 400 ₽
BS ISO 21475:2019
ДействующийPlastics. Methods of exposure to determine the wavelength dependent degradation using spectrally dispersed ra…
28 · PDF
50 400 ₽
BS ISO 18954:2026
ДействующийSteel structures. Structural bolting. Test method to determine parameters of bolt tightening procedures.
24 · PDF
43 200 ₽
BS ISO 22662:2024
ДействующийMilk and milk products. Determination of lactose content by high-performance liquid chromatography (reference…
20 · PDF
36 000 ₽
BS 3531-6.3:1994
ДействующийImplants for osteosynthesis. Skeletal pins and wires. Specification for Kirschner skeletal wires.
8 · PDF
14 400 ₽