ISO 3274:1975
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method — Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation — Contact profile meters, system M
Название (английский):
ISO 3274:1975
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method — Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation — Contact profile meters, system M
- Статус документа:
- Отменён
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 7
- Дата публикации:
- 1 июля 1975 г.
- Издание:
- ISO IS 3274 edition 1 version 1
- ICS:
- 17.040.30
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:2 раб. дн. (перевод)
Цена:12 600 ₽
Технические детали
- Технический комитет
- ISO/TC 213 - Dimensional and geometrical product specifications and verification
- SKU
- ISO 3274:1975
Похожие стандарты
Другие стандарты ISO