ISO 6342:2003
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Название (английский):
ISO 6342:2003
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 3
- Дата публикации:
- 15 июля 2003 г.
- Издание:
- ISO IS 6342 edition 2 version 1
- ICS:
- 37.080
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 рабочий день
Цена:25 €
Описание (английский):
ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
Abstract
Overview
ISO 6342:2003 specifies a standardized method for measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) used in micrographics. The method is intended for manufacturing and inspection purposes to ensure consistent physical characteristics of aperture cards used in microfilm and document-imaging systems.
Похожие стандарты
Стандарты, упомянутые в описании