IEC 62899-503-1:2020 PDF
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Название (английский):
IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 15
- Дата публикации:
- 27 мая 2020 г.
- Издание:
- IEC IS 62899 edition 1 version 1
- ICS:
- 01.040.29
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:3 раб. дн. (перевод)
Цена:225 €
Описание (английский):
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).
Abstract
Overview
Похожие стандарты
Стандарты, упомянутые в описании