IEC TR 62878-2-2:2015 PDF
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 29
- Дата публикации:
- 4 декабря 2015 г.
- Издание:
- IEC TR 62878 edition 1 version 1
- ICS:
- 31.180
IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate.
Abstract
Overview
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты IEC