IEC TR 63133:2017 PDF
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
Название (английский):
IEC TR 63133:2017
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 17
- Дата публикации:
- 11 октября 2017 г.
- Издание:
- IEC TR 63133 edition 1 version 1
- ICS:
- 31.080.01
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:3 раб. дн. (перевод)
Цена:255 €
Описание (английский):
IEC TR 63133:2017(E) specifies a design technique of performance estimation storage element, which can monitor semiconductor ageing and characterize ageing level. The estimated ageing level can be used to improve the reliability of system.
Abstract
Overview - IEC TR 63133:2017 (Scan based ageing level estimation)
Похожие стандарты
Другие стандарты IEC