Перейти к содержимому

★Низкие цены. Оригиналы и переводы — экономьте время и бюджет.

GLSTDStandards Store

Каталог Подписки О компании Поддержка и оплата Публичная оферта Контакты

Поиск

Корзинапуста

GLSTDStandards Store

Официальный магазин стандартов ГОСТ, ISO, ASTM. Электронная доставка, актуальные редакции, прозрачные цены.

Компания

О компании
Контакты
Поддержка и оплата

Помощь

Каталог
Корзина
Поиск

Правовая информация

Публичная оферта
Политика конфиденциальности
Условия использования

Способы оплаты:VisaMastercardMIRСБПЮMoneyСберТинькоффPayPalApple PayGoogle PayKlarnaStripe

© 2026 GLSTD. Все права защищены.Электронная доставка PDF · оригиналы и переводы

Поиск

Найдено: 1

IEC 60749-23:2025

Действующий

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Overview IEC 60749-23:2025 - Semiconductor devices: High temperature operating life (HTOL) specifies an accelerated life test to determine the effects of bias conditions and elevated temperature on s…