BS EN 62374-1:2010 PDF
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
Название (английский):
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Дата публикации:
- 31 декабря 2010 г.
- ICS:
- 29.140.20
- Технический комитет:
- CENELEC
- SKU:
- BS EN 62374-1:2010
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:1 раб. дн. (перевод)
Цена:194 €
Abstract
1 Scope This part of IEC 62374 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты BS