ISO 18452:2005
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer
Название (английский):
ISO 18452:2005
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer
- Статус документа:
- Действующий
- Формат:
- Электронный (PDF)
- Количество страниц:
- 9
- Дата публикации:
- 16 ноября 2005 г.
- Издание:
- ISO IS 18452 edition 1 version 1
- ICS:
- 81.060.30
Тип поставки:
Язык документа:
Срок поставки:2 раб. дн. (перевод)
Цена:16 200 ₽
Описание (английский):
ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.
Abstract
Похожие стандарты
Упомянутые в описании и другие стандарты ISO